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內(nèi)存卡容量測試有什么危害

更新時間:2016-03-17本文內(nèi)容轉(zhuǎn)載自互聯(lián)網(wǎng)
寫入數(shù)據(jù)、刪掉數(shù)據(jù)、格式化、測速、容量測試等操作可能會使儲存卡有發(fā)熱的情況,但對儲存卡都沒什么危害。儲存卡是閃存式儲存器,最怕的是物理性損壞,如斷裂、擠壓等。但盡量在使用完成后先停止設(shè)備在拔出,不要在擦寫數(shù)據(jù)時強制拔出。
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