局部測(cè)光是佳能公司首創(chuàng)、屬點(diǎn)測(cè)光方式的改進(jìn)方式。其特點(diǎn)是測(cè)光范圍比點(diǎn)測(cè)光要大些.

局部測(cè)光是中央重點(diǎn)加權(quán)平均測(cè)光和點(diǎn)測(cè)光方式的折衷方式。中央重點(diǎn)加權(quán)平均測(cè)光方式易于使用，但在照明條件奇特的場(chǎng)合下無(wú)能為力;而點(diǎn)測(cè)光方式能準(zhǔn)確地控制曝光量，但難以使用，要經(jīng)驗(yàn)比較豐富后才能發(fā)揮效用。局部測(cè)光方式則處于二者之間。如在拍攝一幅半身肖像時(shí)，如果背景光很亮，而且人臉上的亮度又不均勻，若用中央重點(diǎn)加權(quán)平均測(cè)光方式給出的測(cè)光值來(lái)曝光，有可能使人臉曝光不足;而使用點(diǎn)測(cè)光時(shí)，額頭的讀數(shù)與下巴的讀數(shù)可能會(huì)有差別，只有經(jīng)驗(yàn)豐富時(shí)才能知道該測(cè)取哪一部分的讀數(shù)。采用局部測(cè)光方式，因測(cè)光區(qū)域較點(diǎn)測(cè)光大，所以能兼顧人臉上的各部分的曝光。